X线头影测量与分析

头影测量技术是迄今为止最重要和最有价值的测量方法。它是美国的Broadbent和德国的Hofrath于1931年首次引入正畸学领域的测量技术。现在，它已成为口腔正畸、正颌外科及口腔修复等专业临床诊断、治疗设计及研究工作的一个重要技术手段。该技术主要用于以下几个方面：

1.对颜面生长及颅颌骨骼生长的研究。

2.男女生长发育差异的研究。

3.生长方向变化的研究。(https://www.daowen.com)

4.颅面畸形异常分析。

5.预测颅面生长发育。

6.正颌外科的诊断和矫正设计。

7.矫治诊断、预后对比的研究。