X线头影测量的主要应用

研究颅面生长发育：X线头影测量是研究颌骨面部生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，横向研究颌骨面部生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，进行颌骨面部生长发育的纵向研究。由于X线头颅照像是严格定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的可比性。通过颌骨面部生长发育的X线头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、性别间差异，以及颅面生长发育的预测。

牙、颅面畸形的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，分辨是骨性畸形或牙性畸形，使对畸形能作出正确的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关系。而对于牙、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须通过X头影测量对正常人颅面结构进行分析，得出正常人各项测量的参考标准，并应用到对畸形的诊断分析中去。

确定错畸形的矫治设计：从X线头影测量分析研究中得出正常关系可存在于各种不同的颅面骨骼结构关系中，而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定，因而当通过测量分析牙、颅面结构后，根据错的机制，可确定颌位及牙齿矫治的理想位置，从而制定出正确可行的矫治方案。

治疗时应根据牙根情况考虑不同的方案，对于有潜在性根吸收的患者应加拍X线根尖片来监控，并在正畸移动过程中格外注意矫治力的应用，牙根吸收超过根长时应加以注意，必要时应中断一段时间治疗，然后改变治疗方法，避免造成牙根吸收加重。(https://www.daowen.com)

全景片可以显示颌骨有无发育异常或病变，对发育异常患者可通过测量分析下颌角高度及长度，预测左右不对称畸形，对宽度不调患者进行治疗方案及疗效评价。用全景片来估计下颌角尺寸和研究矫治过程中及矫治后的牙、颅面形态结构变化。

X线头影测量亦常用作评定矫治过程中，牙、颅面形态结构发生的变化，从而了解矫正器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。如关于口外支抗唇弓矫正器及下颌颏兜矫正器等对牙、颅面结构的作用及变化，都是在使用X线头影测量以后才得以明确和澄清的。

外科正畸的诊断和矫治设计：通过X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面畸形患者进行颅面软硬组织的分析，得出畸形的主要机制，以确定手术的部位、方法及所需移动或切除颌骨的数量，同时应用X线头影图迹进行剪裁，模拟拼对手术后牙位置，得出术后牙、颅面关系的面型图，为外科正畸提供了充分的根据，从而提高了其诊断及矫治水平。

下颌功能分析：X线头影测量还可以用来研究下颌运动，语言发音时的腭功能以及息止间隙等方面的功能分析。也有用于下颌由息止位至咬合时髁突、颌位等位置运动轨迹的功能研究。