2.2.2　粉末X射线衍射分析(XRD)

X 射线衍射仪作为一种分析物质结构和组成的重要手段,在分析材料的晶体结构和晶胞参数等方面具有广泛的应用。本章中所有样品的XRD 分析均采用Rigaku D/max-2500/PCX 射线衍射仪测试样品的晶体结构,测试条件为40kV、34mA 和Cu Kα(λ=0.1540nm)辐射。以连续扫描方式采样;扫描速度为4°/min;扫描范围为5°～80°。测试之前将样品在玛瑙研钵中进行研磨,筛选粒径小于400目的催化剂颗粒,然后放入玻璃片凹槽中进行测试,测试结束后使用Jade-5软件对获得的XRD 数据进行分析。(https://www.daowen.com)