2.7  中子衍射法

中子衍射方法是通过测量中子束的衰减而进行的无损检测方法，可以用来测量材料内部的三维残余应力分布，是一种重要的无损检测分析手段。其测定残余应力的原理与X射线衍射基本相同，但由于中子在材料中的穿透深度较大，中子衍射作为有效的体探针和研究手段，具有较为独特的优势，可探测大块材料内部（厘米量级）的三维残余应力分布；而X射线衍射则主要用于薄膜或材料表面（界面）残余应力的测量。(https://www.daowen.com)