9.6.6　云纹图的记录光路

对于透光材料制成的试件，云纹图的记录一般采用下列两种记录光路。

第1种记录光路如图9.6.7所示，使基准栅RG与粘贴在试件上的试件栅MG紧密接触，用漫射光照射试件。当试件变形后所形成的云纹图用照相机拍摄或在毛玻璃上描绘。

图9.6.7　RG与MG紧密接触的记录光路

第2种记录光路如图9.6.8所示，基准栅RG与试件栅MG不直接接触。试件变形后MG的像呈现在照相机的毛玻璃位置，而基准栅RG也放在此处（有的专用仪器，其毛玻璃本身就具有基准栅的功能），则试件变形后可直接在毛玻璃上观察到云纹图。由于基准栅RG与试件栅MG没放在同一位置，故对于高温应变测量，此法具有优越性。(https://www.daowen.com)

图9.6.8　RG与MG不直接接触的记录光路

对于不透光材料制成的试件，可以采用反射式光路记录，将试件变形后所形成的云纹图通过透镜成像的方式，用照相机拍摄，如图9.6.9所示。

图9.6.9　反射式记录光路