T-ICD广泛使用后发现，围术期和长期并发症风险不可忽视，包括气胸、心脏穿孔、导线移位或断裂，心包积液和压塞、静脉血管通路闭塞、不恰当电击、导线绝缘破损等导线故障、心内膜炎及全身感染，并发症导致住院时间延长，后续治疗增多，医疗费用增加，甚至导致死亡率升高，对预后产生严重影响。为减低围术期并发症风险，S-ICD作为备选方案，得到越来越多的关注。(https://www.daowen.com)
