序

《X射线光电子能谱数据分析》一书问世，真是一件大好事！首先，是由于X射线光电子能谱（XPS）表征数据的分析确实存在一定难度，研究者需要这样一部既有理论，又有大量分析案例的参考书。其次，正如作者在本书中叙述的那样，XPS也被称为化学分析用光电子能谱（ESCA），这一表面分析技术在研究材料元素化学结合态方面具有显著优势；同时，可用于元素组成（除H、He之外）的定性和半定量分析。由此，反映出作者具有聚焦问题和需求的敏锐眼光，从判断材料结构变化和控制产品质量的角度，为相关领域的研究人员提供了强有力的参考工具。

此时，不由得回忆起被誉为“东方第一能谱博士”的王建祺教授。王教授于1981年获得瑞士巴塞尔大学自然科学院理学博士学位，1990年成为北京理工大学应用化学学科的博士生导师。我作为王建祺教授的学生，在他的言传身教和指导下，接触到了XPS分析测试技术。记得在王教授的倡导下，北京理工大学于20世纪80年代末就引入了XPS设备，为科学研究和人才培养做出了独特的贡献。王教授不仅撰写了《电子能谱学（XPS／XAES／UPS）引论》等专著，还率先运用XPS研究了聚合物热降解类石墨转化温度，为判断凝缩相成炭提供了依据，丰富了阻燃机理的研究手段。他发表的大量科学论文，在国内外阻燃材料学术界产生了深远的影响。(https://www.daowen.com)

再次有感于作者理论与实践的结合、深入浅出的分析和全面翔实数据的提供，赋予了此书实在的参考价值。相信随着时间的推移，这部专著将越来越受到从事金属合金、无机非金属、高分子、半导体、催化剂、陶瓷、生物医药、能源材料等领域应用研究、器件研发和质量控制的研究人员的喜爱，发挥其应有的辅助和参考作用。