理论教育 样品的特点和性能测试分析

样品的特点和性能测试分析

时间:2023-06-18 理论教育 版权反馈
【摘要】:图4.1自助溶剂法制备的76Cl2∶10%Eu2+,Dy3+的XRD光谱2)76Cl2∶x Eu2+,Dy3+荧光性能分析图4.2为自助溶剂法制备的76Cl2∶x Eu2+,Dy3+样品测得的激发光谱,监测波长为550 nm,样品的激发光谱为宽带光谱,在275~475 nm范围内均能被有效激发,激发主峰位于380 nm处,除了380 nm附近的主峰外,在396,419,467 nm附近有明显的吸收峰,这是由于Eu2+的4f7基态到4f-5d1电子组态后不同激发态的跃迁所致。

样品的特点和性能测试分析

物相表征采用Bruker AXS D8的X射线衍射仪(Cu Ka辐射源,工作电流电压分别为40 mA,40 k V,扫描范围为10°~80°,扫描速度为5°/min,步长为0.02,入射波长为λ=1.541 8Å),采用Jade-6.5软件分析晶格结构。常温激发发射光谱采用Fluoro Max-4荧光光谱仪,激发光源为450 W氙灯。

1)XRD数据分析

如图4.1是(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶10%Eu2+,Dy3+荧光粉的XRD图谱,其中Eu2+的掺杂浓度固定为10 mol%,Dy3+的掺杂浓度在0~7%之间变化。从图中可以看出,掺杂Dy3+浓度不超过3%的样品的XRD图谱和未掺杂样品的完全一致,说明在Dy3+低浓度掺杂时未对(Ca,Sr)7(SiO36Cl2晶格产生明显影响。当Dy3+掺杂浓度超过3%时,有杂相峰出现。因为(Ca,Sr)7(SiO36Cl2是H.Daich,T.Iwasaki等人[155]合成的新物质,目前还没有标准卡片。本节所制备的(Ca,Sr)7(SiO36Cl2基质的XRD衍射峰与文献报道的XRD图谱一致。本节实验中的Sr Cl2·6 H2O既作为合成荧光粉的原材料也作为助溶剂来降低硅酸盐合成的温度,提高样品的结晶度,同时对Eu2+和Dy3+掺杂(Ca,Sr)7(SiO36Cl2引起的晶格环境变化起到改善作用。

图4.1 自助溶剂法制备的(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶10%Eu2+,Dy3+的XRD光谱

2)(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶x Eu2+,Dy3+荧光性能分析

图4.2(a)为自助溶剂法制备的(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶x Eu2+,Dy3+样品测得的激发光谱,监测波长为550 nm,样品的激发光谱为宽带光谱,在275~475 nm范围内均能被有效激发,激发主峰位于380 nm处,除了380 nm附近的主峰外,在396,419,467 nm附近有明显的吸收峰,这是由于Eu2+的4f78S7/2)基态到4f-5d1电子组态后不同激发态的跃迁所致。固定Eu2+的掺杂浓度为10 mol%,改变Dy3+的掺杂浓度以探究出最佳掺杂浓度。当Dy3+的掺杂浓度从0~7 mol%变化时,荧光粉的宽带激发峰位置基本不变,但是荧光粉的激发峰强度先增大后减小,从图中可以看出,Dy3+在(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶Eu2+中的最佳掺杂浓度为3 mol%,Dy3+的浓度超过3 mol%时,荧光粉发光强度明显下降。

图4.2 自助溶剂法制备的(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶10%Eu2+,Dy3+样品测得的激发光谱(a)和发射光谱(b)

图4.2(b)为样品(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶Eu2+,Dy3+的发射光谱,其激发波长为380 nm,荧光粉呈宽带发射,有效发射光谱范围为450~650 nm,峰值位于550 nm处,发光强度较高,光谱呈高斯分布,这归因于Eu2+的4f6(7F)5d12Eg)激发态到基态8S7/2(4f7)的跃迁。当Dy3+的掺杂浓度为3 mol%时荧光粉的发光强度最大,随着Dy3+掺入量的进一步增加,荧光粉的发光性能下降,可能是因为过量掺入Dy3+导致杂质和大量的晶格缺陷,这些都可能导致Eu2+的发光效率和强度降低。该荧光粉中Eu2+的最佳掺杂浓度为10 mol%,Dy3+的最佳掺杂浓度为3 mol%。(www.daowen.com)

为了进一步研究Dy3+离子对(Ca,Sr)7(SiO36Cl2基质荧光粉荧光性能的影响,制备了Dy3+单独掺入(Ca,Sr)7(SiO36Cl2的样品,其激发发射光谱如图4.3(a)所示。波长280~430 nm范围内的激发光谱由Dy3+离子的f-f能级跃迁组成,其中在346 nm(6H15/2_6P7/2)处的峰是最强的。如图4.3(a)所示,(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶0.03Dy3+样品有两个主要的发射峰,分别位于478 nm和568 nm,对应于Dy3+离子的4f9/2_6H15/24f9/2_6H13/2能级跃迁。4f9/2_6H13/2是非常敏感的能级跃迁,它受Dy3+离子所处晶体场环境影响很大。4f9/2_6H13/2能级跃迁在(Ca,Sr)7(SiO36Cl2基质中是主导的,这说明Dy3+在该基质中占据了低对称性的位点。

图4.3 (Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶Dy3+的激发光谱和发射光谱(a)及(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶Eu2+,Dy3+的激发光谱和发射光谱(b)

图4.3(b)为(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶0∶03Dy3+,0.1Eu2+的激发光谱和(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶0.1Eu2+的发射光谱。从图中可以看出共掺杂样品的激发光谱强度是Dy3+单独掺杂样品发射光谱强度的30倍以上。发光增强的原因可能是由于距离较近的Dy3+离子在Eu2+离子的附近聚集形成空穴陷阱[156],此陷阱的能级处在Eu2+的基态能级和激发态能级之间。当荧光粉受到激发时,此时部分Eu2+处于激发态,Dy3+此时也会捕获空穴,而部分未激发的Eu2+会获得来自Dy3+捕获的空穴释放的能量,从而促进Eu2+发光过程,荧光粉发光强度升高。当Dy3+浓度继续增加时,荧光光谱强度开始下降,出现了典型的浓度淬灭现象。因为过量Dy3+掺杂,Dy3+浓度太高会致使距离较远的Dy3+离子捕获空穴,从而Eu2+离子附近的空穴陷阱浓度下降,Eu2+离子获得的能量减少,荧光粉的发光强度就降低。这说明Dy3+在(Ca,Sr)7(SiO36Cl2中对Eu2+起到敏化的作用。

3)量子效率和色坐标分析

为了进一步研究(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶Eu2+,Dy3+荧光粉的发光性能,通过D.Mello等人[157]和P.Monk man[158]的方法测试计算出了样品的量子效率。简单地说量子效率QE(φf)通过计算发射光子数(Nem)与吸收光之数(Nabs)之比得到:φf=Nem/Nabs=(Ec-Ea)/(La-Lc)其中,Ec表示在直接激发下通过积分球收集到的样品发光光束,Ea表示从一个空的积分球中收集的发光光束(不放置样品情况下),La表示从空的积分球中收集到的激发光束,Lc表示在直接激发下从放置样品的积分球中收集到的激发光束。在380 nm波长近紫外光激发下,(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶10%Eu2+,3%Dy3+荧光粉量子效率达到24.6%。

图4.4 (Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶10%Eu2+,3%Dy3+的在380 nm波长激发下的色坐标(插入图是该样品在365 nm紫外灯照射下的实物图)

如图4.4所示,Eu2+,Dy3+掺杂量最优的(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶10%Eu2+,3%Dy3+样品的色坐标为(x=0.350 7,y=0.502 1),位于黄绿光区域。可见,(Ca,Sr)7(SiO36Cl2∶10%Eu2+,3%Dy3+荧光粉是一种有应用前景的近紫外激发黄色荧光粉。

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