6.5.2　颗粒方向分析方法

之前的章节研究了颗粒的三维方向，现在研究特定平面上颗粒的二维方向分布。之所以研究特定平面上颗粒的二维方向，是因为在室内试验中很难测得颗粒的三维方向。最常用的研究颗粒方向的试验法是固化切片法，但这一方法本质上是研究特定平面上颗粒的二维方向。颗粒的三维方向在三维数值模拟中可以很方便地获得，这在第5章中三维颗粒方向部分已经讨论过，本节主要分析三维数值模型中颗粒方向在某一特定平面上的二维投影，从而对数值模拟中颗粒方向的分布与试验结果进行对比。

研究颗粒方向的二维投影时，可以采用形态学方法对区域分析时的切面进行分析研究。但是数值模拟在分析颗粒方向时更有优势，因为数值模拟中试样内每个颗粒的位置和半径已知，所以可以通过几何算法求得特定平面上的颗粒方向。这样可以避免形态法中不精确的计算，得到更加准确的计算结果。