基于自身抗体结合的部位，天疱疮损害的病理学特征是上皮棘细胞层松解，并因此形成上皮内疱（或裂隙样结构）。上皮内疱中可见单个或成团脱落的棘细胞。直接免疫荧光检查具有高度的特征性，使用特异性荧光抗体染色组织切片，可见上皮棘细胞膜上出现荧光，呈现特征性的上皮棘细胞层网状荧光带。间接免疫荧光检查用于检测外周血中的自身抗体滴度，具有诊断价值，也可指导疾病的治疗和预后判断。(https://www.daowen.com)
