根分叉病变探查

根分叉病变（furcation involvement，FI）是指牙周炎发展到较重的程度后，病变累及多根牙的根分叉区，在该处出现牙周袋、附着龈丧失和牙槽骨破坏，可继发于牙周炎、牙髓炎和根尖周的病变，可发生于任何类型的牙周炎。由于根分叉部位解剖结构的复杂与多变，如根分叉开口处的宽度、分叉角度、根面凹陷、牙颈部的釉质突起等情况，致病因素复杂，病变破坏程度也不同，给临床治疗工作带来较大的挑战。不同牙位的根分叉病变程度和出现概率不同，一般来说，下颌第一磨牙患病率最高，上颌双尖牙患病率最低。可根据探诊和X线片来判断病变的程度（图5-3）。

图5-3　根分叉病变（林敏魁医师提供）

Glickman将根分叉病变分为4度。

Ⅰ度：属于病变早期。根分叉区发生轻微的骨质吸收，从牙周袋内已能探到根分叉的外形，但尚不能水平深入根分叉内，牙周袋属于骨上袋。

Ⅱ度：在多根牙的1个或1个以上的分叉区内，骨吸收分叉区骨吸收仅限于颊侧或舌侧，或颊舌侧均有吸收但尚未与对侧相通，根分叉内尚有部分牙槽骨和牙周膜存在。临床探查时探针可从水平方向部分地进入分叉区内，但与对侧不相通，X线片一般仅显示分叉区牙周膜增宽，或骨质密度有小范围的降低。(https://www.daowen.com)

Ⅲ度：根分叉区的牙槽骨全部吸收，探针能水平通过分叉区形成贯通性病变，但它仍被牙龈组织覆盖而未直接暴露于口腔。下颌磨牙的Ⅲ度病变在X线片上可见完全的透影区，但有时会因牙根靠近或外斜线的重叠而使病变不明显，上颌磨牙一般不够明显。

Ⅳ度：牙根间的骨间隔完全破坏，且牙龈退缩而使病变的根分叉区完全暴露于口腔。X线片所见与Ⅲ度病变相似。

临床要点：上颌磨牙的颊侧及下颌磨牙的颊侧、舌侧根分叉一般较易探查，但上颌磨牙邻面的根分叉病变较难探测，可用专门的根分叉探针从上颌磨牙的腭侧进入，分别探测近中腭分叉及远中腭分叉。总的来说，X线片所见的根分叉病变总是比临床实际要轻些，这是由于投照角度、组织影像重叠所致。