3.2　微放电试验目的

随着航天技术的飞速发展，航天器大功率微波通信投入使用，空间设备内部的微放电效应已经成为制约空间通信技术发展的重要因素；近年来，有效载荷小型化集成技术快速发展，局部功率密度过大也促使了微放电的发生，高集成度系统必须要对微放电效应进行全面、系统的研究。研究微放电效应产生的机理、分析微波部件微放电的阈值及如何有效地抑制微放电效应已经成为我们当前迫切的任务。尽管通过以往研究获得了微放电效应敏感区域，可以据此来预测简单微波部件的微放电阈值，但实际的微放电阈值不能完全确定，由于缺乏在各种几何条件下的可靠的微放电效应敏感性设计标准曲线，所以要建立实际使用的设计容限。

尽管厂商生产的微波部件经过了合格的鉴定手续，而且是完全洁净的，但实际上许多微波部件由于某些意想不到的污染会使其阈值下降，这是由于：面材料状况、黏结剂和润滑剂的存在、制作过程中存在某些没有预计到的污染和锐利边缘上场强的增加，使得航天器有效载荷所用微波部件微放电阈值下降。

因此，至少必须对将要飞行的实际部件的代表性样品进行测试，最好是对飞行部件本身也要测试，且测试电平要比微放电阈值高一定余量，以适应测试以后由复杂因素导致的微放电阈值下降，主要的影响因素包括操作和存放过程中的污染、发射以后污染的转移和在轨道上电压驻波比的变化等。