4.1.1 物位测量的主要方法和分类

4.1.1 物位测量的主要方法和分类

在工业生产中,被测介质的特性千差万别,物位测量的方法很多以适应各种不同的测量要求,可将它们归纳为以下几个测量原理:

(1)基于力学原理

敏感元件所受到的力(压力)的大小与物位成正比,它包括静压式、浮力式和重锤式物位测量等。

1)静压式物位测量

静压式物位测量是根据流体静力学原理,液体内某一点的压力与其所在位置的深度有关,因此可用静压力表示液位,如连通器式、压差式和压力式等。

2)浮力式液位测量

浮力式液位测量是根据浮在液面上的浮球或浮标随液位的高低而产生上下位移,或浸于液体中的浮筒随液位变化而引起浮力的变化的原理来测量的。前者一般称为恒浮力式测量,后者称为变浮力式测量。

3)重锤式物位测量

重锤式物位测量是利用测量重锤从仓顶到料面的距离来测量料位的。

(2)基于相对变化原理

当物位变化时,物位与容器底部或顶部的距离发生改变,通过测量距离的相对变化可获得物位的信息。这是一种非接触式的物位测量方法,这种测量原理包括声学法、微波法和光学法等。

1)声学式物位测量

声学式物位测量是利用超声波在一定状态介质中的传播具有一定速度的特性,当声源与物位(分界面)的距离变化时,回声的时间(从发射到接收超声波的时间间隔)也要改变。根据回声的时间变化就可测量出物位的变化。

2)微波式物位测量

微波式物位测量是利用回声测量距离的原理工作的。

3)激光式物位测量

激光式物位测量与超声波类似。

(3)基于某强度性物理量随物位的升高而增加的原理

1)核辐射式物位测量

核辐射式物位测量是利用核辐射线穿透物体的能力以及物质对放射性射线的吸收特性进行测量的。目前在物位测量中,一般都采用穿透能力强的γ射线,其放射源采用60Co,137Cs等同位素。

2)电气式物位测量

电气式物位测量是利用敏感元件直接把物位变化转换为电量参数的变化。根据电量参数的不同,可分为电阻式、电感式和电容式等。目前电容式最为常见。

在上述介绍的物位测量技术中,静压式、浮力式只用于液位的测量,重锤式只用于粉状料位的测量,其余的既可用于液位的测量,也可用于粉状料位的测量。其中,声学式、光学式、微波式及核辐射式属于非接触测量。