18.8.11 电子器件用钨丝(SJ 20143—1992)

18.8.11 电子器件用钨丝(SJ 20143—1992)

1.电子器件用钨丝的牌号、类型和用途(表18-207)

表18-207 电子器件用钨丝的牌号、类型和用途(SJ 20143—1992)

图示

注:“T”类型钨丝采用“推拉”法或低倍芯线绕螺旋法检验其绕丝性能;“L”类型钨丝采用绕螺旋法检验其绕丝性能;“W”类型钨丝采用弯折试验检验其脆性。

2.电子器件用钨丝的化学成分(表18-208)

表18-208 电子器件用钨丝的化学成分(SJ 20143—1992)

图示

3.电子器件用W型钨丝的抗拉强度(表18-209)

表18-209 电子器件用W型钨丝的抗拉强度(SJ 20143—1992)(https://www.daowen.com)

图示

4.电子器件用钨丝成品的直径、重量及允许偏差(表18-210)

表18-210 电子器件用钨丝成品的直径、重量及允许偏差(SJ 20143—1992)

图示

注:同一根丝的允许偏差不超过同级允许偏差的1/2。

5.电子器件用钨丝的单根最短长度(表18-211)

表18-211 电子器件用钨丝的单根最短长度(SJ 20143—1992)

图示