X射线检测分析技术

1895年，德国科学家伦琴在实验中发现了一种新型射线——X射线。1948年，世界上第一台X射线荧光光谱仪投入生产使用。20世纪50年代，牛津大学考古研究室率先使用X射线荧光分析技术，由此，该技术在国际上得到普遍推广与应用。20世纪70—80年代，特别是改革开放以来，我国的X射线监测分析技术得到了快速发展，尤其在陶瓷、金属、玉器、丝织品等文物考古研究中取得了一系列丰硕的成果。X射线检测分析技术是文物科技保护工作中最重要的文物无损检测手段之一。根据文物检测与保护原理及其属性的不同，常见的X射线检测分析技术有X射线荧光光谱分析法、X射线衍射分析法和X射线光电子能谱等。