X射线光电子能谱（XPS）

利用X射线辐射待测样品，激发样品表面原子或分子内层的电子，发射出光电子。以光电子的动能、束缚能为横坐标，以相对强度为纵坐标，做出光电子能谱图，以获取样品相关信息。根据能谱图中特征谱线的位置，可分析除氢、氦以外的所有元素，也可根据能谱图中谱线的强度计算原子的含量或相对浓度。XPS的谱线数据有标准手册可查，主线的BE值在定性中起到关键作用。它是一种表面分析方法，提供的是样品表面的元素含量与形态，其信息深度为3~5 nm。如果利用离子作为剥离手段，利用XPS作为分析方法，可以实现对样品的深度分析。后期处理中，数据库将处理分析结果与基础信息数据库进行比对，可以对文物进行产地分析，通常使用SPSS软件对数据进行描述性分析、聚类分析、判别分析、主成分分析、因子分析和对应分析。

总之，各种成分分析手段都有其利弊，如X射线荧光光谱分析凭借其分析速度快、无损害等优势在陶瓷考古中应用最为广泛，但它易受样品的不均匀性而产生误差；扫描电镜定性分析灵敏度高，但定量分析灵敏度相对较低。因此，在当今文物检测保护实验中，为了对文物断年、产地与矿料来源、制作工艺、保护修复方面进行综合研究，学者们往往会运用多种检测技术，相互结合、取长补短，综合各方优势以达到最佳的保护分析效果。