3.2　质谱测量技术

质谱测量技术通过直接测定样品中待测元素的原子个数来确定其浓度。无机分析质谱现已广泛用于环境样品中放射性核素的痕量和超痕量浓度分析及同位素比值测量。常用的质谱测量技术包括电感耦合等离子体质谱（inductively coupled plasma-mass spectrometry，ICP-MS）、热电离质谱（thermal ionization mass spectrometry，TIMS）、加速器质谱（accelerator mass spectrometry，AMS）、二次离子质谱（secondary ion mass spectrometry，SIMS）、共振离子质谱（retarding ion mass spectrometry，RIMS）及辉光放电质谱（glow discharge mass spectrometry，GDMS）等，其中，ICP-MS、TIMS及AMS是环境样品中低活度放射性核素最主要的质谱分析手段。与放射性计数测量技术相比，质谱测量技术对于长寿命放射性核素（t1/2＞1 000 a）的分析灵敏度更高。