X线头影测量技术

X线头影测量技术是在人类学研究的基础上，1931年由Broadbent和Hofrath分别提出的。这种技术是在X线头颅定位像上描图，确定一些标志点，然后根据对这些标志点描绘出的一定线距、角度及线距比进行测量分析，用以了解颅、颌、面、牙等软硬组织的结构情况及其相互关系，使医生能够通过颅面结构的表面形态了解其内部结构。通过分析患者的定位X线头颅影像，进一步了解畸形的机制，有助于做出正确的诊断和矫治设计。通过矫治前后的测量分析，还可以了解矫治过程中牙、颌、面的变化情况，判断和分析矫治效果。这项技术也常作为儿童颅面生长发育研究的一种手段。在不足百年的时间内，这项技术不断发展，已经成为口腔各专业，特别是口腔正畸、正颌外科和口腔修复等专业的诊断、治疗设计及研究工作的重要手段，也可用于人类学、考古学的研究，甚至刑事侦查工作等。